最近在使用CH582m芯片出現(xiàn)一個(gè)問題，在Ble協(xié)議棧中做ADC采集時(shí)出現(xiàn)采數(shù)據(jù)出現(xiàn)問題，具體表現(xiàn)是使用ADC采集電位器上的電壓，電位器沒動(dòng)的情況下，讀出來的ADC值在不斷增大。但是不在Ble中做采集就是正常的。想問一下在跑Ble時(shí)，是否會(huì)對(duì)ADC采樣有影響，看了芯片手冊(cè)也沒看到有說。

使用官方的例程進(jìn)行測(cè)試，通過TMOS的方式添加ADC的采集功能，進(jìn)行測(cè)試，理論上不會(huì)出現(xiàn)影響的，同時(shí)注意排除噪聲等影響，在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候注意接線。

好的?