芯片為 582M. 問題隨機(jī)且可復(fù)現(xiàn).

基于 1.5版本EVT中的BLE \Peripheral 工程進(jìn)行修改

測試硬件為? CH582M-R0-1V0.

創(chuàng)建test任務(wù).? 循環(huán)事件里面 進(jìn)行簡單的io測試

創(chuàng)建定時器中斷? 也進(jìn)行簡單的io測試.?

tmos的循環(huán)事件里面操作 PB12/13/14/15/16

中斷里面操作PB17

異常:

測量 PB17波形.

波形應(yīng)該是 每間隔20ms 出現(xiàn)一個短暫的高電平, 持續(xù)100us

實測會出現(xiàn)一段異常的高電平.

????波形方大后 如下:

整個工程, 只有在定時器中斷里面操作了 PB17.

個人猜測 是不是tmos里面操作 PB上的其他bit 影響到了PB17.

該現(xiàn)象出現(xiàn)的間隔是隨機(jī)的. 1到3分鐘可以抓到一次.

測試工程:

Peripheral.rar

幫忙驗證處理一下

如有結(jié)果. 麻煩回復(fù)下郵件

個人信息保護(hù)，已隱藏??

當(dāng)前的測試結(jié)果是對test_interrupt加上highcode進(jìn)行處理，因為在中斷的操作是需要進(jìn)行highcode放在RAM中運行的。

當(dāng)前可以先進(jìn)行多次測試，然后查看現(xiàn)象是否正常。

關(guān)于相應(yīng)的代碼運行，后續(xù)我們考慮提供相應(yīng)的講解，會在第一時間發(fā)送至郵箱。